Teodor Gotszalk

Teodor Paweł Gotszalk
Państwo działania

 Polska

Data i miejsce urodzenia

20 czerwca 1966
Wrocław

Data i miejsce śmierci

21 listopada 2025
Wrocław

Profesor nauk technicznych
Specjalność: nanometrologia
Alma Mater

Politechnika Wrocławska

Polska Akademia Nauk
Status

członek korespondent

Profesor zwyczajny
Uczelnia wyższa

Katedra Nanometrologii, Politechnika Wrocławska

Teodor Paweł Gotszalk (ur. 20 czerwca 1966 we Wrocławiu[1], zm. 21 listopada 2025 tamże[2]) – polski naukowiec, kierownik Katedry Nanometrologii na Politechnice Wrocławskiej[3], w latach 2022–2025 członek korespondent Polskiej Akademii Nauk[4]. Ekspert w zakresie nanometrologii, w szczególności w zakresie technik mikroskopii bliskich oddziaływań, skaningowej mikroskopii elektronowej i technik zogniskowanych wiązek jonów. Był specjalistą w badaniach z wykorzystaniem urządzeń mikroelektromechanicznych (ang. microelectomechanical systems, MEMS). Autor ponad 200 publikacji w renomowanych czasopismach[5], Indeks Hirscha według bazy Scopus wynosi 27[6]. Był promotorem 20 zamkniętych przewodów doktorskich.

Syn Krystyny (farmaceutki) i Ryszarda (profesora Politechniki Wrocławskiej) Gotszalków, mąż Magdaleny Cisek-Gotszalk (architekt), ojciec Anny Kotowskiej (naukowczyni), wuj Marty Leśniak (polskiej tenisistki)[7].

Został pochowany na cmentarzu Grabiszyńskim we Wrocławiu[8].

Życiorys[1]

Studia odbył na Wydziale Elektroniki oraz Wydziale Elektrycznym Politechniki Wrocławskiej. Stopień naukowy doktora otrzymał w 1996 roku po odbyciu studiów doktoranckich w Instytucie Technologii Elektronowej PWr. W 2005 roku otrzymał stopień naukowy doktora habilitowanego. W 2012 roku uzyskał tytuł profesora nauk technicznych[9].

Kierownik Wydziałowego Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur od 2006 roku (przekształcony w Katedrę Nanometrologii). Jest to jedyna w Polsce grupa badawcza zorganizowana wokół kompleksowych badań metrologicznych mikro- i nanostruktur. W badaniach wykorzystywane są mikroskopia bliskich oddziaływań, mikroskopia elektronowa i jonowa skojarzone z metodami i technikami pomiarów właściwości elektrycznych, termicznych, dyfrakcyjnych oraz optycznych.

Teodor Gotszalk był opiekunem Studenckiego Stowarzyszenia Naukowego Polskich Entuzjastów Nanotechnologii (SPENT). Był recenzentem paneli eksperckich w europejskich programach metrologicznych European Metrology Programme for Innovation and Research (EMPIR), programach Unii Europejskiej (6,7 Programach Ramowych) oraz w programie Horyzont 2020, Europejskiej Fundacji Naukowej (ang. European Science Foundation-ESF), Europejskiej Rady Naukowej (ang. European Research Councli-ERC), i Narodowego Centrum Nauki (NCN).

Był recenzentem 17 rozpraw doktorskich (7 w Niemczech (Uniwersytet Techniczny w Ilmenau), 1 w Australii (Uniwersytet w Perth), 1 w Wielkiej Brytanii (Imperial College w Londynie), 1 w Szwajcarii (EPFL w Lozannie), 5 w ośrodkach krajowych). W latach 2010–2021 wygłosił 21 zaproszonych wykładów w ośrodkach zagranicznych m.in. Uniwersytety w Princeton, CNSE Albany i Los Angeles, (USA), IBM Yorktown Heights (USA), NIST (USA), NPL (Wlk. Brytania), Imperial College (Wlk. Brytania), EMPA Thun (Szwajcaria), Uniwersytet w Ilmenau (Niemcy), Uniwersytet w Pawii (Włochy), Uniwersytet w Singapurze.

Granty i stypendia[10][11]

Stypendysta Deutscher Akademischer Austauschdienst (DAAD) (łącznie 30 miesięcy), Komisji Fulbrighta (4 miesięczny pobyt na Uniwersytecie w Albany, College of Nanoscience and Engineering (CNSE) w 2010 roku) i Fundacji Kościuszkowskiej (3 miesięczny pobyt na Uniwersytecie w Berkeley w 2022 roku). Pracował w laboratoriach badawczo rozwojowych koncernu SIEMENS (łącznie 6 miesięcy), National Physical Laboratory (NPL) w Wlk. Brytanii (łącznie 3 miesiące) i Instytucie Badań Materiałowych EMPA w Thun w Szwajcarii (łącznie 1 miesiąc).

Laureat programów Fundacji na Rzecz Nauki Polskiej (FNP) (stypendium krajowe w 1997 roku, program TECHNE, program TEAM, stypendium profesorskie MISTRZ). Dodatkowo:

  • Kierownik 3 projektów własnych i 4 projektów promotorskich Komitetu Badań Naukowych (KBN)
  • Kierownik 3 grantów OPUS NCN
  • Opiekun naukowy 3 grantów OPUS PRELUDIUM
  • Kierownik 2 grantów badawczych z 6 Programu Ramowego Badań UE (STREP TASNANO oraz IP PRONANO) oraz 1 z 7 Programu Ramowego (STREP NanoHeat)
  • Kierownik 2 grantów badawczych w programu metrologicznego EMPIR (EMPIR NanoWires i EMPIR MetExSPM)
  • Koordynator krajowy projektu COST Action: Focused Ion Technology for Nanomaterials-FIT4NANO
  • Kierownik projektu UE EURIPIDES Komercyjna dostępna technologia dźwigni ze zintegrowanymi detektorami ugięcia dla mikroskopii bliskich oddziaływań[12]

Przypisy

  1. ↑ a b Teodor Paweł Gotszalk, Informacja o kandydacie wnioskowanym po raz pierwszy na stanowisko, 11 maja 2017.
  2. ↑ Zmarł prof. Teodor Gotszalk [online], k72.pwr.edu.pl [dostęp 2025-11-22].
  3. ↑ Pracownicy / K72 [online], wzn.pwr.edu.pl [dostęp 2021-10-05].
  4. ↑ GOTSZALK, Teodor Paweł - Polska Akademia Nauk - Członkowie PAN [online], pan.pl [dostęp 2024-04-26] (pol.).
  5. ↑ Web of Science [online], www.webofscience.com [dostęp 2021-10-05].
  6. ↑ Scopus preview - Gotszalk, Teodor Paweł - Author details - Scopus [online], www.scopus.com [dostęp 2025-05-05].
  7. ↑ Prof. dr hab. inż. Teodor Paweł Gotszalk / Katedra Nanometrologii [online], k72.pwr.edu.pl [dostęp 2025-11-21].
  8. ↑ Nekrolog Teodor Gotszalk [online], Archon [dostęp 2025-12-05].
  9. ↑ Prof. dr hab. inż. czł. koresp. PAN Teodor Paweł Gotszalk, [w:] archiwalna baza „Ludzie nauki” portalu Nauka Polska (OPI PIB) [dostęp 2024-09-03].
  10. ↑ Wydziałowy Zakład Metrologii Mikro- i Nanostruktur | Teodor Gotszalk [online], w12.pwr.wroc.pl [dostęp 2021-10-05].
  11. ↑ Projekty / K72 [online], wzn.pwr.edu.pl [dostęp 2021-10-05].
  12. ↑ Projekt

Content Disclaimer

Informasi ini disarikan dari Wikipedia dan disajikan kembali untuk tujuan edukasi. Konten tersedia di bawah lisensi CC BY-SA 3.0. Kami tidak bertanggung jawab atas ketidakakuratan data yang bersumber dari kontribusi publik tersebut.

  1. The information displayed on this website is sourced in part or in whole from Wikipedia and has been adapted for the purpose of restating it. We strive to provide accurate and relevant information, however:
  2. There is no guarantee of absolute accuracy. Wikipedia is an open, collaborative project that can be edited by anyone, so information is subject to change.
  3. It is not intended to constitute professional advice. The content displayed is for informational and educational purposes only. For important decisions (e.g., medical, legal, or financial), please consult a professional.
  4. Content copyright. Wikipedia is licensed under the Creative Commons Attribution-ShareAlike License (CC BY-SA). This means that content may be reused with appropriate attribution and shared under a similar license.
  5. Responsible use. Any risk arising from the use of information from this website is entirely the responsibility of the user.
Kembali kehalaman sebelumnya